Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Année : 2005
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https://hal.science/hal-00203965
Soumis le : vendredi 11 janvier 2008-14:58:53
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00203965 , version 1
Citer
Yvan Maidon, Thomas Zimmer, I. Ivanov. An Analog Circuit Fault Characterization Methodology. Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2005, 1, pp.1. ⟨hal-00203965⟩
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