Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00197402
Soumis le : vendredi 14 décembre 2007-15:17:20
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00197402 , version 1
Citer
Christophe Cordier, Abdelmalek Boukhenoufa, Laurent Pichon. Two dimensional numerical simulation of 1/f noise by GR mechanisms in thin film transistors : Effects of induced defect technology. Europeen Symposium Reliability on Electron Devices, 2007, Arcachon, France. ⟨hal-00197402⟩
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