Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2006
Nathalie Labat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00196943
Soumis le : jeudi 13 décembre 2007-21:28:03
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00196943 , version 1
Citer
Alberto Sozza, Arnaud Curutchet, Christian Dua, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, et al.. AlGaN/GaN HEMT Reliability Assessment by means of Low Frequency Noise Measurements. Microelectronics Reliability, 2006, 46, pp.1725-1730. ⟨hal-00196943⟩
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