AlGaN/GaN HEMT Reliability Assessment by means of Low Frequency Noise Measurements - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00196943 , version 1 (13-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00196943 , version 1

Citer

Alberto Sozza, Arnaud Curutchet, Christian Dua, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, et al.. AlGaN/GaN HEMT Reliability Assessment by means of Low Frequency Noise Measurements. Microelectronics Reliability, 2006, 46, pp.1725-1730. ⟨hal-00196943⟩
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