Article Dans Une Revue
Surface and Coatings Technology
Année : 2008
Patrick Simon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00194734
Soumis le : vendredi 7 décembre 2007-12:52:01
Dernière modification le : mercredi 16 octobre 2024-08:56:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00194734 , version 1
- DOI : 10.1016/j.surfcoat.2007.08.050
Citer
T. Gries, L. Vandenbulcke, Patrick Simon, A. Canizares. Polarized micro-Raman spectroscopy for studying stresses in as-grown and tensile-tested diamond films. Surface and Coatings Technology, 2008, 202, pp.2263-2267. ⟨10.1016/j.surfcoat.2007.08.050⟩. ⟨hal-00194734⟩
Collections
34
Consultations
0
Téléchargements