Characterization of Mesostructured TiO2 Thin Layers by Ellipsometric Porosimetry - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2006

Characterization of Mesostructured TiO2 Thin Layers by Ellipsometric Porosimetry

V. Rouessac
Florence Bosc
J. Durand
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1104751
André Ayral

Dates et versions

hal-00186246 , version 1 (08-11-2007)

Identifiants

Citer

V. Rouessac, Romain Coustel, Florence Bosc, J. Durand, André Ayral. Characterization of Mesostructured TiO2 Thin Layers by Ellipsometric Porosimetry. Thin Solid Films, 2006, pp.232. ⟨10.1016/j.tsf.2005.08.334⟩. ⟨hal-00186246⟩
68 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More