Behaviour of fast and ultra-fast 600V punch-through IGBT under unclamped inductiveswitching stress at high temperature - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1999

Behaviour of fast and ultra-fast 600V punch-through IGBT under unclamped inductiveswitching stress at high temperature

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185558

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-13:51:28

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-00185558 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185558 , version 1

Citer

Stéphane Azzopardi, Jean-Michel Vinassa, Christian Zardini. Behaviour of fast and ultra-fast 600V punch-through IGBT under unclamped inductiveswitching stress at high temperature. Proceedings of the European Power Electronics Conference (EPE), 1999, Suisse. pp.1. ⟨hal-00185558⟩

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