Communication Dans Un Congrès
Année : 2001
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https://hal.science/hal-00185555
Soumis le : mardi 6 novembre 2007-13:51:22
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00185555 , version 1
Citer
Stéphane Azzopardi, H. Iwamoto, A. Kawamura. Soft-switching turn-off characterization at high temperature of 1200V trench IGBTusing local lifetime control. Proc.IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and Ics, 2001, Japon. pp.1. ⟨hal-00185555⟩
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