Analysis of the punch-through IGBT internal behaviour under failure at turn-off on unclamped inductive switching - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2000

Analysis of the punch-through IGBT internal behaviour under failure at turn-off on unclamped inductive switching

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185549

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-13:50:25

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185549 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185549 , version 1

Citer

Stéphane Azzopardi, Jean-Michel Vinassa, Christian Zardini. Analysis of the punch-through IGBT internal behaviour under failure at turn-off on unclamped inductive switching. International Power Electronics Conference, 2000, Japan. pp.1. ⟨hal-00185549⟩

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