Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1995

Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185421

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:32

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185421 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185421 , version 1

Citer

Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, Yvan Maidon, Jean Tomas, Jean-Paul Dom. Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells. Proc. of the 6th European Symposium Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, 1995, France. pp.1. ⟨hal-00185421⟩

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