Conference Papers
Year : 1997
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https://hal.science/hal-00185417
Submitted on : Tuesday, November 6, 2007-9:05:30 AM
Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:49 PM
Dates and versions
Identifiers
- HAL Id : hal-00185417 , version 1
Cite
T. Calin, Hervé Lapuyade, Michael Nicolaidis, Raoul Velazco, Pascal Fouillat. Simulation d upsets dans une mémoire SRAM CMOS utilisant des capteurs de courant intégrés. Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, 1997, France. pp.1. ⟨hal-00185417⟩
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