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Conference Papers Year : 1997

Simulation d upsets dans une mémoire SRAM CMOS utilisant des capteurs de courant intégrés

T. Calin
  • Function : Author
Michael Nicolaidis
  • Function : Author
Raoul Velazco
Not file

Dates and versions

hal-00185417 , version 1 (06-11-2007)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00185417 , version 1

Cite

T. Calin, Hervé Lapuyade, Michael Nicolaidis, Raoul Velazco, Pascal Fouillat. Simulation d upsets dans une mémoire SRAM CMOS utilisant des capteurs de courant intégrés. Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, 1997, France. pp.1. ⟨hal-00185417⟩
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