Test de circuits intégrés par faisceau laser pulsé - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2001
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185412 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185412 , version 1

Citer

Dean Lewis, Vincent Pouget, Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat. Test de circuits intégrés par faisceau laser pulsé. Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), 2001, France. pp.1. ⟨hal-00185412⟩
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