Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Quality and Reliability Engineering International Année : 1994
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185408 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185408 , version 1

Citer

Pascal Fouillat, Stéphane Gervais-Ducouret, Hervé Lapuyade, Jean-Paul Dom. Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing. Quality and Reliability Engineering International, 1994, 10, pp.1. ⟨hal-00185408⟩
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