Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Quality and Reliability Engineering International Année : 1994

Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185408

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:26

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-00185408 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185408 , version 1

Citer

Pascal Fouillat, Stéphane Gervais-Ducouret, Hervé Lapuyade, Jean-Paul Dom. Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing. Quality and Reliability Engineering International, 1994, 10, pp.1. ⟨hal-00185408⟩

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