Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 1999

Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185404

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:25

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185404 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185404 , version 1

Citer

Vincent Pouget, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Renaud Briand, Pascal Fouillat, et al.. Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis. Microelectronics Reliability, 1999, 39, pp.1. ⟨hal-00185404⟩

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