Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2000

Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185403

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:25

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185403 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185403 , version 1

Citer

Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis, Hervé Lapuyade, Frédéric Darracq, et al.. Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits. Microelectronics Reliability, 2000, 40, pp.1. ⟨hal-00185403⟩

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