Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2001

Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185401

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:24

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185401 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185401 , version 1

Citer

Dean Lewis, Vincent Pouget, Thomas Beauchene, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, et al.. Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing. Microelectronics Reliability, 2001, 41, pp.1. ⟨hal-00185401⟩

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