Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2001
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185401 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185401 , version 1

Citer

Dean Lewis, Vincent Pouget, Thomas Beauchene, Hervé Lapuyade, Pascal Fouillat, et al.. Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing. Microelectronics Reliability, 2001, 41, pp.1. ⟨hal-00185401⟩
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