Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003

Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects

Frédéric Darracq
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Hervé Lapuyade
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
N. Buard
  • Fonction : Auteur
Pascal Fouillat
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
R. Dufayel
  • Fonction : Auteur
T. Carriere
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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185396

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:19

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

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Dates et versions

hal-00185396 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185396 , version 1

Citer

Frédéric Darracq, Hervé Lapuyade, N. Buard, Pascal Fouillat, R. Dufayel, et al.. Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1. ⟨hal-00185396⟩

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