Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1996

Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00184312 , version 1 (31-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00184312 , version 1

Citer

Yann Deval, Renaud Briand, Xavier Montagner, Pascal Fouillat, Jean Tomas, et al.. Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations. Journées d'étude RADECS96, 1996, France. ⟨hal-00184312⟩
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