Evolution of Reliability Assessment In PCB Assemblies - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2001

Evolution of Reliability Assessment In PCB Assemblies

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183967

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-12:41:39

Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183967 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183967 , version 1

Citer

Yves Danto, Jean-Yves Deletage, Frédéric Verdier, Hélène Fremont. Evolution of Reliability Assessment In PCB Assemblies. SBMicroélectronique, 2001, Brazil. pp.1. ⟨hal-00183967⟩

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