Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00183958
Soumis le : mardi 30 octobre 2007-12:41:32
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183958 , version 1
Citer
Hélène Fremont, Jean-Yves Deletage, Kirsten Weide-Zaage, Yves Danto. How to study delamination in plastic encapsulated devices. Microelectronics Reliability, 2004, 1, pp.1. ⟨hal-00183958⟩
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