Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2005
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https://hal.science/hal-00183957
Soumis le : mardi 30 octobre 2007-12:41:32
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183957 , version 1
Citer
Kirsten Weide-Zaage, Walter Horaud, Hélène Fremont. Moisture diffusion in Printed Circuit Boards : Measurements and Finite- Element- Simulations. Microelectronics Reliability, 2005, 45, pp.1. ⟨hal-00183957⟩
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