Etude de la fiabilité de composants et modules optoélectroniques - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2000

Etude de la fiabilité de composants et modules optoélectroniques

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183955 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183955 , version 1

Citer

Yannick Deshayes. Etude de la fiabilité de composants et modules optoélectroniques. IIIème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, 2000, France. pp.1. ⟨hal-00183955⟩
33 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More