Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183951

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-12:39:11

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183951 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183951 , version 1

Citer

Laurent Mendizabal, Laurent Bechou, Yannick Deshayes, Frédéric Verdier, Yves Danto. Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique. 7ème JNRDM 2004, 2005, France. pp.1. ⟨hal-00183951⟩

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