Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003

Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Ims Import  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00183949

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-12:39:06

Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183949 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183949 , version 1

Citer

Jean-Yves Deletage, Frédéric Verdier, Bernard Plano, Yannick Deshayes, Laurent Bechou, et al.. Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1137-1144. ⟨hal-00183949⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS IMS-BORDEAUX IMS-BORDEAUX-FUSION
107 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More