Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183949 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183949 , version 1

Citer

Jean-Yves Deletage, Frédéric Verdier, Bernard Plano, Yannick Deshayes, Laurent Bechou, et al.. Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1137-1144. ⟨hal-00183949⟩
89 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More