Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2001
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https://hal.science/hal-00183576
Soumis le : mardi 30 octobre 2007-09:31:18
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183576 , version 1
Citer
Stéphane Azzopardi, Olivier Briat, Jean-Michel Vinassa, Eric Woirgard, Christian Zardini. Local lifetime control IGBT structures: turn-off performances comparisonfor hard-soft-switching between 1200 V trench and new planar PT-IGBTs. Microelectronics Reliability, 2001, 41, pp.1. ⟨hal-00183576⟩
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