Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies
Année : 2003
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https://hal.science/hal-00183575
Soumis le : mardi 30 octobre 2007-09:31:17
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183575 , version 1
Citer
Jean-Marc Thebaud, Eric Woirgard, Christian Zardini, Stéphane Azzopardi, Olivier Briat, et al.. Strategy for designing accelerated ageing tests to evaluate IGBT power modules lifetime in real operation mode. IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies, 2003, 26, pp.429-438. ⟨hal-00183575⟩
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