EXAFS study of defect clusters of highly Er3+ doped CaF2 thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Mat. Sci. Forum Année : 1999

EXAFS study of defect clusters of highly Er3+ doped CaF2 thin films

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183549 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183549 , version 1

Citer

Thierry Cesaire, Lionel Hirsch, Albert-Serge Barriere. EXAFS study of defect clusters of highly Er3+ doped CaF2 thin films. Mat. Sci. Forum, 1999, 315, pp.1. ⟨hal-00183549⟩
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