Evidence of surface trap effects on pseudomorphic HEMT submitted to impact ionization stresses - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183511 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183511 , version 1

Citer

Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Benoit Lambert, Andre Touboul, Gérard Pataud. Evidence of surface trap effects on pseudomorphic HEMT submitted to impact ionization stresses. GAAS 2002, 2002, Italy. pp.1. ⟨hal-00183511⟩
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