Evolution of LF noise in power PHEMTs submitted to RF and DC step Stresses - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2001

Evolution of LF noise in power PHEMTs submitted to RF and DC step Stresses

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183495

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:52:45

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183495 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183495 , version 1

Citer

Benoit Lambert, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Frédéric Verdier, Andre Touboul, et al.. Evolution of LF noise in power PHEMTs submitted to RF and DC step Stresses. Microelectronics Reliability, 2001, 39, pp.1. ⟨hal-00183495⟩

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