Analysis of GaAs HBT failure mechanisms : impact on the life testing strategy - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1997

Analysis of GaAs HBT failure mechanisms : impact on the life testing strategy

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183481

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:47:41

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-00183481 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183481 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Saysset, Yves Danto, Jean Dangla, et al.. Analysis of GaAs HBT failure mechanisms : impact on the life testing strategy. International Symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits, 1997, Singapore. pp.1. ⟨hal-00183481⟩

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