TBH GaInP/GaAs planar : Analyse de deux mécanismes de défaillances - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1999

TBH GaInP/GaAs planar : Analyse de deux mécanismes de défaillances

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183479

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:47:40

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-00183479 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183479 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Andre Touboul, Yves Danto, Muriel Riet, et al.. TBH GaInP/GaAs planar : Analyse de deux mécanismes de défaillances. Journées Nationales Microélectroniques et optoélectroniques, 1999, France. pp.1. ⟨hal-00183479⟩

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