Reliability evaluation of GaAs HBT technologies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1999
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183478 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183478 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Malbert, Andre Touboul, Yves Danto, et al.. Reliability evaluation of GaAs HBT technologies. IEEE International Symposium on Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications, 1999, United Kingdom. pp.1. ⟨hal-00183478⟩
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