Fiabilité du TBH sur InP - Analyse du Bruit aux Basses Fréquences - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Fiabilité du TBH sur InP - Analyse du Bruit aux Basses Fréquences

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183470

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:47:36

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-00183470 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183470 , version 1

Citer

Jean-Christophe Martin, Cristell Maneux, Nathalie Labat, Andre Touboul, Muriel Riet, et al.. Fiabilité du TBH sur InP - Analyse du Bruit aux Basses Fréquences. Journées Nationales Microondes - JNM, 2003, France. pp.1. ⟨hal-00183470⟩

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