InP-based HBT Reliability - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

InP-based HBT Reliability

Cristell Maneux
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Nathalie Labat
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Andre Touboul
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Jean Godin
  • Fonction : Auteur
S. Blayac
  • Fonction : Auteur
Myrtil L. Kahn
Muriel Riet
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183104

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-15:32:00

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183104 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183104 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Andre Touboul, Jean Godin, S. Blayac, et al.. InP-based HBT Reliability. 2003 European Microwave Week, Workshop on Reliability of microwave devices, 2003, Germany. ⟨hal-00183104⟩

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