InP/InGaAs/InP DHBT submitted to bias and thermal stresses: LF base noise analysis - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

InP/InGaAs/InP DHBT submitted to bias and thermal stresses: LF base noise analysis

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183103

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-15:31:59

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183103 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183103 , version 1

Citer

Jean-Christophe Martin, Cristell Maneux, Nathalie Labat, Andre Touboul. InP/InGaAs/InP DHBT submitted to bias and thermal stresses: LF base noise analysis. SPIE Fluctuation and Noise Conference, 2004, Spain. pp.1. ⟨hal-00183103⟩

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