Analysis of the surface base current drift in GaAs HBT's - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 1996
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183097 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183097 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Saysset, Andre Touboul, Yves Danto, et al.. Analysis of the surface base current drift in GaAs HBT's. Microelectronics Reliability, 1996, 36, pp.1. ⟨hal-00183097⟩
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