Low frequency noise as a reliability diagnostic tool in compound semiconductor transistors - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2004

Low frequency noise as a reliability diagnostic tool in compound semiconductor transistors

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183088

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-15:31:41

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183088 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183088 , version 1

Citer

Nathalie Labat, Nathalie Malbert, Cristell Maneux, Andre Touboul. Low frequency noise as a reliability diagnostic tool in compound semiconductor transistors. Microelectronics Reliability, 2004, 44, pp.1. ⟨hal-00183088⟩

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