Body Effect Principle Applied to RF CMOS Circuits - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183026 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183026 , version 1

Citer

Jean-Baptiste Begueret, Thierry Taris, Hervé Lapuyade. Body Effect Principle Applied to RF CMOS Circuits. IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'04), 2004, Tunisia. pp.1. ⟨hal-00183026⟩
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