Dynamic Testing of A/D Converters: How Many Samples for a Given Precision? - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1996
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183008 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

Citer

Dominique Dallet, Patrice Kadionik, Mohamed Benkais, Philippe Marchegay. Dynamic Testing of A/D Converters: How Many Samples for a Given Precision?. IMTC: IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 1996, Brussels, Belgium. pp.1298-1303, ⟨10.1109/IMTC.1996.507581⟩. ⟨hal-00183008⟩
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