Improving Reliability Evaluation of Electronic Assemblies Using Early Physical and Electrical Indicators - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1997

Improving Reliability Evaluation of Electronic Assemblies Using Early Physical and Electrical Indicators

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00182920

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-13:11:11

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00182920 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182920 , version 1

Citer

Yves Ousten, S. Ponomarenko, Laurent Bechou, Yves Danto, Said Mejdi, et al.. Improving Reliability Evaluation of Electronic Assemblies Using Early Physical and Electrical Indicators. Third ESA Electronic Components Conference, 1997, Netherlands. pp.1. ⟨hal-00182920⟩

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