Communication Dans Un Congrès
Année : 2001
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https://hal.science/hal-00182915
Soumis le : lundi 29 octobre 2007-13:11:09
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00182915 , version 1
Citer
Laurent Bechou, Yves Ousten, Yves Danto. New Methods for Scanning Ultrasonic Microscopy - Applications for Failure Analysis of Microassembling Technologies. IPFA 2001, 2001, Singapore. pp.1. ⟨hal-00182915⟩
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