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Communication Dans Un Congrès Année : 2001

New Methods for Scanning Ultrasonic Microscopy - Applications for Failure Analysis of Microassembling Technologies

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00182915 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182915 , version 1

Citer

Laurent Bechou, Yves Ousten, Yves Danto. New Methods for Scanning Ultrasonic Microscopy - Applications for Failure Analysis of Microassembling Technologies. IPFA 2001, 2001, Singapore. pp.1. ⟨hal-00182915⟩
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