Reliability Analysis of Tantalum Capacitors for High Temperature Application - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Reliability Analysis of Tantalum Capacitors for High Temperature Application

A. Dehbi
  • Fonction : Auteur
W. Wondrak
  • Fonction : Auteur
Yves Ousten
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Yves Danto
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00182913

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-13:11:07

Dernière modification le : samedi 1 juillet 2023-04:26:42

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00182913 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182913 , version 1

Citer

A. Dehbi, W. Wondrak, Yves Ousten, Yves Danto. Reliability Analysis of Tantalum Capacitors for High Temperature Application. CARTS Europe 2003: 17th Annual Passive Components Conference, 2002, France. pp.1. ⟨hal-00182913⟩

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