Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2004
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00182909 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182909 , version 1

Citer

Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Bernard Plano, et al.. Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics. IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2004, United States. pp.1. ⟨hal-00182909⟩
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