Reliability analysis of ceramic capacitors under 200C - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2004
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00182907 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182907 , version 1

Citer

Yves Ousten, Bruno Levrier, Frédéric Verdier. Reliability analysis of ceramic capacitors under 200C. CARTS Europe 2004: 18th Annual Passive Components Conference, 2004, France. pp.40-44. ⟨hal-00182907⟩
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