Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 1997
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https://hal.science/hal-00182880
Soumis le : lundi 29 octobre 2007-13:08:27
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00182880 , version 1
Citer
S. Gauffre, Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, Jacques Pistre, Alain Cazarré. An Automatic Adaptation Method for Heterojunction Bipolar Transistor Dynamic Test. Microelectronics Reliability, 1997, 37, pp.1695-1698. ⟨hal-00182880⟩
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