An Automatic Adaptation Method for Heterojunction Bipolar Transistor Dynamic Test - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 1997

An Automatic Adaptation Method for Heterojunction Bipolar Transistor Dynamic Test

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00182880 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182880 , version 1

Citer

S. Gauffre, Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, Jacques Pistre, Alain Cazarré. An Automatic Adaptation Method for Heterojunction Bipolar Transistor Dynamic Test. Microelectronics Reliability, 1997, 37, pp.1695-1698. ⟨hal-00182880⟩
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