Study of a 3D thermal characterization of SiGe HBTS - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181990 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181990 , version 1

Citer

Pierre-Yvan Sulima, Jean Luc Battaglia, Thomas Zimmer, Sébastien Fregonese, D. Celi. Study of a 3D thermal characterization of SiGe HBTS. Microtherm 2005, VI Conference Thermal Problems in Electronics, 2005, Pologne. ⟨hal-00181990⟩
79 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More