Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00181976
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-17:28:09
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181976 , version 1
Citer
Hassene Mnif, Thomas Zimmer, Jean Luc Battaglia, Sébastien Fregonese. Representation of the SiGe HBT's Thermal Impedance by Linear and Recursive Networks. Microelectronics Reliability, 2004, 44, pp.1. ⟨hal-00181976⟩
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